中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程
試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法

Basic environmental testing procedures for
electric and electronic products
Test Ka: Salt mist

GB/T 2423.17-93
代替GB 2423.17-8

本標(biāo)準(zhǔn)等效采用IEC 68-2-11《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程?試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法》（1981年第三版）。

1????主題內(nèi)容與適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)的鹽霧試驗(yàn)方法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于考核材料及其防護(hù)層的抗鹽霧腐蝕的能力，以及相似防護(hù)層的工藝質(zhì)量比較，也可以用來(lái)考核某些產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的能力。

本標(biāo)準(zhǔn)不適用作為通用的腐蝕試驗(yàn)方法。

2????引用標(biāo)準(zhǔn)

GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程?總則

GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程?名詞術(shù)語(yǔ)

GB2424.10電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程?大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則

3????對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的要求

3.1??用于制造試驗(yàn)設(shè)備的材料必須耐鹽霧腐蝕和不影響試驗(yàn)結(jié)果。

3.2??試驗(yàn)設(shè)備中工作空間的條件應(yīng)該保持在本標(biāo)準(zhǔn)第5章規(guī)定的限度之內(nèi)。

3.3??有足夠大的容積，并能提供均勻的試驗(yàn)條件，且試驗(yàn)時(shí)這些條件不受試驗(yàn)樣品的影響。3.4??鹽霧不得直接噴射到試驗(yàn)樣品上。

3.5??試驗(yàn)設(shè)備工作空間內(nèi)頂部和內(nèi)壁，以及其他部位的冷凝液不得滴落在試驗(yàn)樣品上。

3.6??試驗(yàn)設(shè)備內(nèi)外氣壓必須平衡。

4????試驗(yàn)溶液

4.1鹽溶液采用氯化鈉（化學(xué)純、分析純）和蒸餾