中華人民共和國國家標準
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程
試驗Ka:鹽霧試驗方法
Basic environmental testing procedures for
electric and electronic products
Test Ka: Salt mist
GB/T 2423.17-93
代替GB 2423.17-8
本標準等效采用IEC 68-2-11《基本環(huán)境試驗規(guī)程? 試驗Ka：鹽霧試驗方法》（1981年第三版）。
1???? 主題內(nèi)容與適用范圍
本標準規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗的鹽霧試驗方法。
本標準適用于考核材料及其防護層的抗鹽霧腐蝕的能力，以及相似防護層的工藝質(zhì)量比較，也可以用來考核某些產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的能力。
本標準不適用作為通用的腐蝕試驗方法。
2???? 引用標準
GB2421 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程? 總則
GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程? 名詞術語
GB2424.10 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程? 大氣腐蝕加速試驗的通用導則
3???? 對試驗設備的要求
3.1?? 用于制造試驗設備的材料必須耐鹽霧腐蝕和不影響試驗結(jié)果。
3.2?? 試驗設備中工作空間的條件應該保持在本標準第5章規(guī)定的限度之內(nèi)。
3.3?? 有足夠大的容積，并能提供均勻的試驗條件，且試驗時這些條件不受試驗樣品的影響。3.4?? 鹽霧不得直接噴射到試驗樣品上。
3.5?? 試驗設備工作空間內(nèi)頂部和內(nèi)壁，以及其他部位的冷凝液不得滴落在試驗樣品上。
3.6?? 試驗設備內(nèi)外氣壓必須平衡。
4???? 試驗溶液
4.1鹽溶液采用氯化鈉（化學純、分析純）和蒸餾水或去離子水配制，其濃度為（5±0.1）%（質(zhì)量百分比）。霧化前的鹽溶液，除擋板擋回部分外，不得重復使用。
4.2 霧化前的鹽溶液的pH值在6.5~7.2(35±2℃)之間。配制鹽溶液時，可采用化學純的稀鹽酸或氫氧化鈉的溶液來調(diào)整pH值，但濃度仍須符合第4.1條的規(guī)定。
5???? 試驗條件
5.1?? 試驗設備的工作試驗空間內(nèi)的溫度為35±2℃。
5.2?? 在工作空間內(nèi)任一位置，用面積為80cm2的漏斗收集連續(xù)霧化16h的鹽霧沉降量，平均每小時收集到1.0~2.0mL的溶液。
5.3?? 本標準采用連續(xù)霧化，推薦的試驗持續(xù)時間為16、24、48、96、168、336、672h。
5.4?? 霧化時必須防止油污、塵埃等雜質(zhì)和噴射空氣的溫、濕度影響工作空間的試驗條件。
6???? 試驗程序
6.1?? 初始檢測
試驗前，試驗樣品必須進行外觀檢查，如果需要可按有關標準進行其他項目的性能測定。試驗樣品表面必須干凈、無油污、無臨時性的保護層和其他弊病。
6.2?? 預處理
按有關標準規(guī)定，對即將試驗的試驗樣品進行清潔，所用清潔方法應不影響鹽霧對試驗樣品的作用，試驗前應盡量避免用手直接觸摸試驗樣品表面。
6.3?? 條件試驗
6.3.1?????? 試驗樣品放置位置由有關標準規(guī)定，一般按其正常使用狀態(tài)放置（包括外罩等）；平板試驗樣品需使受試面與垂直方向成30°角。
6.3.2?????? 試驗樣品不得相互接觸，它們的間隙距離應是不影響鹽霧能自由降落在試驗樣品上，以及一個試驗樣品上的鹽溶液不得滴落在其他試驗樣品上。
6.3.3?????? 試驗樣品放置后按第5章規(guī)定的試驗條件進行條件試驗，試驗持續(xù)時間按有關標準規(guī)定從第5.3條的規(guī)定中選取。
6.4?? 恢復
試驗結(jié)束后，用流動水輕輕洗去試驗樣品表面鹽沉積物，再在蒸餾水中漂洗，洗滌水溫不得超過35℃，然后在標準的恢復大氣條件下恢復1~2h，或按有關標準規(guī)定的其他恢復條件和恢復時間。
6.5?? 最后檢測
恢復后的試驗樣品應及時進行檢查、測試并記錄結(jié)果。檢查項日、試驗結(jié)果評定和合格要求均由有關標準規(guī)定。
4?????????? 引用本標準時應給出的細則
有關標準采用本試驗方法時，應對下列項目作出具體規(guī)定：
a.?????? 初始檢測（見本標準第6.1條）；
b.?????? 預處理（見本標準第6.2條）；
c.?????? 安裝細節(jié)（見本標準6.3條）；
d.?????? 試驗持續(xù)時間（見本標準第5.3條）；
e.?????? 恢復（見本標準第6.4條）；
f.??????? 最后檢測（見本標準6.5條）。
附加說明：
本標準由中華人民共和國機械工業(yè)部提出。
本標準由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會歸口。
本標準由機械工業(yè)部廣州電器在科學研究所負責起草。由電子工業(yè)部第五研究所、中國船舶工業(yè)部公司第七研究院標準化室、航空航天工業(yè)部301所、機械工業(yè)部上海電器科學研究所共同參加起草。
本標準主要起草人章薔英、劉慧貞、謝鼎忠、夏越美、鐘開華。

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