震動(dòng)臺(tái)的一般試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

　　GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則: 振動(dòng)(正弦)

　　GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--一般要求

　　GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--高再現(xiàn)性

　　GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdb: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)中再現(xiàn)性

　　GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdc: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)低再現(xiàn)性

　　GB/T 2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/ 振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法

　　GB/T 2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/ 振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法

　　GB/T 2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff: 振動(dòng)--時(shí)間歷程法

　　GB/T 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fe: 振動(dòng)--正弦拍頻法

　　GB/T 2424.22-86電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度（低溫、高溫）和振動(dòng)（正玄）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則

　　GB/T 2424.24-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正玄）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則。