振動試驗臺是用于在實驗室內(nèi)模擬真實振動環(huán)境效應(yīng)的試驗設(shè)備，振動試驗是在震動臺上采用不同的輸入信號激勵樣品。振動試驗主要分為正弦和隨機振動，由于兩者的物理過程不同，在兩者之間沒有嚴(yán)格的等效關(guān)系，所以在選擇試驗方式時，切勿進行正弦到隨機的嚴(yán)酷度等級轉(zhuǎn)換,是模擬產(chǎn)品在于制造，組裝運輸及使用執(zhí)行階段中所遭遇的各種環(huán)境，用以鑒定產(chǎn)品是否忍受環(huán)境振動的能力，適用于電子、機電、光電、汽機車、玩具等各行各業(yè)的研究、開發(fā)、品管、制造。

簡述振動試驗臺的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn):

GB / T 2423.10-1995環(huán)境試驗電工電子產(chǎn)品第二部分：試驗Fc和導(dǎo)則：振動（正弦）

GB / T 2423.11-1997環(huán)境試驗電工電子產(chǎn)品第二部分：試驗Fd ：寬帶隨機振動 - 一般要求

GB / T 2423.12-1997環(huán)境試驗電工電子產(chǎn)品第二部分：試驗Fda ：寬帶隨機振動，重復(fù)性高

GB / T 2423.13-1997環(huán)境試驗電工電子產(chǎn)品第二部分：試驗FDB ：寬帶隨機振動再現(xiàn)

GB / T 2423.14-1997環(huán)境試驗電工電子產(chǎn)品第二部分：試驗Fdc ：寬帶隨機振動和低可重復(fù)性

GB / T 2423.35-1986基本環(huán)境試驗規(guī)程電工電子產(chǎn)品檢驗Z / AFC ：輻射和非輻射低溫/振動（正弦）試驗方法試驗樣品

高溫/ GB / T 2423.36-1986基本環(huán)境試驗規(guī)程電工電子產(chǎn)品檢驗Z / BFc指南：散熱和非散熱樣品的振動（正弦）試驗方法

GB / T 2423.48-1997環(huán)境試驗電工電子產(chǎn)品第二部分：試驗Ff ：振動時程分析法

GB / T 2423.49-1997環(huán)境試驗電工電子產(chǎn)品第二部分：試驗Fe ：振動 - 正弦拍頻法

基本環(huán)境試驗規(guī)程電工電子產(chǎn)品溫度GB / T 2424.22-86 （低溫，高溫）和振動（正弦）綜合試驗指導(dǎo)原則

基本環(huán)境試驗規(guī)程電工電子產(chǎn)品溫度GB / T 2424.24-1995 （低溫，高溫） /低氣壓/振動（正弦）試驗.

關(guān)鍵詞：振動試驗臺